Mengoptimalkan Pengamatan Cacat di Sekrup (Penyok, Goresan, Retak, dan Lengkungan)

Sistem pengamatan sudut bebas dapat digunakan untuk identifikasi serta pencitraan penyok dan goresan mikroskopis secara jelas dari sudut mana pun tanpa harus mengubah posisi sekrup.

Pengamatan perbesaran rendah dengan cincin pencahayaan (20×)

Pengamatan perbesaran tinggi dengan cincin pencahayaan (200×)

Mikroskop Digital

Seri VHX-7000

Kembali ke "Pemilihan Produk berdasarkan Industri dan Aplikasi"